FAシステムのトータルソリューション

欠陥画像取得サービス

欠陥を検査する場合、高精度な画像処理技術を考えられる方が大勢います。

昨今、ディープラーニングやAIの進歩により画像処理アルゴリズムも高精度化かつ使いやすくなりました。

しかしながら、欠陥の取得方法においてはwebカメラを用いるなど簡単な方法で取得されようとする方々が多いです。

照明環境や画像取得環境を構築することにより、ディープラーニング・AIの高精度化や高確率化画像検査が可能です。

また、場合によっては高精度の画像処理アルゴリズムも不要の場合もあります。

当社は、画像取得を行うための光学系の提案等行っております。

対象物は半導体のような精密なものから樹脂成形品、食品にいたるまでさまざまなものを対象としております。

一度、お問い合わせください。

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